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Electron Microscopy and Analysis (Goodhew, Peter J. / Humphreys, John / Beanland, Richard)
Electron Microscopy and Analysis
Autor Goodhew, Peter J. / Humphreys, John / Beanland, Richard
Verlag Taylor and Francis
Co-Verlag Taylor & Francis Ltd (Imprint/Brand)
Sprache Englisch
Einband Kartonierter Einband (Kt)
Erscheinungsjahr 2000
Seiten 264 S.
Artikelnummer 20735245
ISBN 978-0-7484-0968-6
Auflage 3. A.
Sonstiges Professional
CHF 145.00
Zusammenfassung
A guide to scanning and transmission microscopes and to the analytical techniques based on them. It covers the techniques of electron energy loss spectroscopy and energy dispersive X-ray analysis. It compares electron microscopic techniques to many of the competing physical investigative techniques available.
Peter J. Goodhew, John Humphreys The University of Manchester, Richard Beanland GEC Marconi Materials Technology, England.