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Electron Microscopy and Analysis (Goodhew, Peter J / Humphreys, John / Beanland, Richard)
Electron Microscopy and Analysis
Autor Goodhew, Peter J / Humphreys, John / Beanland, Richard
Verlag CRC Press
Sprache Englisch
Einband Kartonierter Einband (Kt)
Erscheinungsjahr 2000
Seiten 264 S.
Artikelnummer 20735245
ISBN 978-0-7484-0968-6
Auflage 00003 A. 3rd edition
CHF 131.00
Zusammenfassung
215562282

Electron Microscopy and Analysis deals with several sophisticated techniques for magnifying images of very small objects by large amounts - especially in a physical science context. It has been ten years since the last edition of Electron Microscopy and Analysis was published and there have been rapid changes in this field since then. The authors have vastly updated their very successful second edition, which is already established as an essential laboratory manual worldwide, and they have incorporated questions and answers in each chapter for ease of learning. Equally as relevant for material scientists and bioscientists, this third edition is an essential textbook.