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Pattern Recognition. ICPR International Workshops and Challenges (Del Bimbo, Alberto (Hrsg.) / Cucchiara, Rita (Hrsg.) / Sclaroff, Stan (Hrsg.) / Farinella, Giovanni Maria (Hrsg.) / Mei, Tao (Hrsg.) / Bertini, Marco (Hrsg.) / Escalante, Hugo Jair (Hrsg.) / Vezzani, Roberto (Hrsg.))
Pattern Recognition. ICPR International Workshops and Challenges
Untertitel Virtual Event, January 10-15, 2021, Proceedings, Part IV
Autor Del Bimbo, Alberto (Hrsg.) / Cucchiara, Rita (Hrsg.) / Sclaroff, Stan (Hrsg.) / Farinella, Giovanni Maria (Hrsg.) / Mei, Tao (Hrsg.) / Bertini, Marco (Hrsg.) / Escalante, Hugo Jair (Hrsg.) / Vezzani, Roberto (Hrsg.)
Verlag Springer International Publishing
Sprache Englisch
Mediaform PDF
Erscheinungsjahr 2021
Seiten 735 S.
Artikelnummer 36917649
ISBN 978-3-030-68799-1
Auflage 1st ed. 2021
Plattform PDF
Reihe Lecture Notes in Computer Science; Image Processing, Computer Vision, Pattern Recognition, and Graphics
Reihenbandnummer 12664
Kopierschutz Wasserzeichen
CHF 118.00
Zusammenfassung
133393175